
探头负载效应:探头测电路中的其中两点的波形时,,,,,,,,在两个测试点之间接入了一个负载,,,,,,,,而这个负载的大幼,,,,,,,,会直接影响电路的状态,,,,,,,,造成丈量了局的不正确性。。。。。。。
而无源探头X1,,,,,,,,是没有输入电阻,,,,,,,,而是将其自身的电容(蕴含电缆的电容)直接接入电路中,,,,,,,,因而改探头负载效应重要由容性负载主导。。。。。。。我们能够通过容抗公式Xc = 1/(2πfC)推论出来:
以一个输入电容为50pF的典型X1探头为例:
一、在10MHz频率下,,,,,,,,其容抗Xc约为318Ω
丈量一个10MHz的信号时,,,,,,,,探头相当于在被测电路上并联了一个仅318Ω的阻抗。。。。。。。对于大无数输出阻抗较高(如数千欧姆)的电路来说,,,,,,,,这是一个极低的负载,,,,,,,,会严沉扭转电路正本的工作状态,,,,,,,,导致信号幅度大幅衰减、波形失真,,,,,,,,甚至使电路无法正常工作。。。。。。。
二、在20MHz频率下,,,,,,,,其容抗Xc约为159Ω
注明统一个探头下,,,,,,,,信号频率越高,,,,,,,,容抗越低,,,,,,,,对电路负载效应影响越大。。。。。。。
固然无源探头X1负载效应严沉,,,,,,,,但还是有其对应的使用场景:
1、丈量极幼幅度的信号:X1档位对信号无衰减,,,,,,,,活络度最高,,,,,,,,适合丈量几十毫伏甚至更幼的信号,,,,,,,,而这些信号用X10档位可能会因衰减而难以观察。。。。。。。
2、利用其低带宽个性:X1档位因输入电容大形成低通滤波器,,,,,,,,当丈量低频信号时,,,,,,,,它能够有效滤除信号中混入的高频噪声,,,,,,,,使波形显示更干净。。。。。。。

总结:无源探头的负载效应,,,,,,,,尤其是容性负载,,,,,,,,是高频丈量中不成预防的误差源。。。。。。。因而要凭据使用场景选择相宜的档位进行测试。。。。。。。